低溫卷繞試驗箱

低溫卷繞試驗儀符合GB2951.14-2008、GB/T2951.4-1997《電纜和光纜絕緣和護套材料通用試驗方法：通用試驗方法—低溫試驗》、GB2099-2008、VDE0472和IEC884-1等標準。適用于考核測定圓形電纜或圓形絕緣線芯在低溫狀態(tài)下的性能，與低溫箱配套使用。
1、低溫卷繞試樣直徑：Ф2.5～Ф12.5mm 
2、卷繞棒直徑：Ф4.0、Ф6.0、Ф8.0、Ф12.0、Ф16.0、Ф20.0、Ф24.0、 
Ф28.0、Ф32.0、Ф36.0、Ф40.0、Ф50.0mm共12支（可訂制） 
3、過線套：Ф3.5、Ф6、Ф10、Ф12、Ф16mm各二件（可訂制） 
4、試樣纏繞圈數(shù)：2～10圈 
5、材質(zhì)：SUS304不銹鋼 
6、重量約：20KG 

試驗過程如下：

1、本試驗一般適用于外徑12.5mm及以下的圓形絕緣線芯及不能制備啞鈴試件的扇形絕緣線芯。若有關(guān)電纜產(chǎn)品標準中規(guī)定，試驗應在大尺寸絕緣線芯上進行。否則，大尺寸絕緣線芯應進行低溫拉伸試驗。符合GB/T2951.14-2008和GB/T2951.4-1997。 
2、取樣和試樣制備 
從每個被試絕緣線芯上取兩根適當長度的試樣。如有外護層，應除去后才能作為試樣。 
3、試驗儀器 
本試驗*采用的試驗設(shè)備參見圖1及注釋。它基本上由一旋轉(zhuǎn)軸和試樣導向裝置組成。也可使用實際上與圖1設(shè)備相當?shù)牧硪环N單軸設(shè)備。此試驗設(shè)備在試驗前及試驗過程中應放置在低溫箱內(nèi)。 
4、試驗步驟 
試樣應按圖1所示固定在設(shè)備上。 
裝好試樣的設(shè)備應在規(guī)定溫度的低溫箱內(nèi)放置不少于16h。16h的冷卻時間包括冷卻設(shè)備所必需的時間。 
如果試驗設(shè)備已預冷，只要試樣已達到規(guī)定的試驗溫度。則允許縮短冷卻時間，但不得少于4h。如果試驗設(shè)備和試樣均已預冷，則將每個試樣固定在試驗設(shè)備上后冷卻1h就足夠了。 
規(guī)定的冷卻時間結(jié)束后，旋轉(zhuǎn)試棒，使試樣整齊地在試棒上卷繞成緊密的螺旋。如果是扇形試樣，則試樣的圓形“背部"應與試棒接觸。 
然后，將試樣保持在試棒上，使其恢復到接近環(huán)境溫度。 
5、試驗條件 
試驗溫度按有關(guān)電纜產(chǎn)品標準規(guī)定。 
試棒的直徑應為試樣直徑的4~5倍 
試棒應以約每5s轉(zhuǎn)一圈的速率勻速旋轉(zhuǎn)，卷繞圈數(shù)按下表規(guī)定： 
試樣外徑，mm 旋轉(zhuǎn)圈數(shù)
每一試樣的實際直徑應用游標卡尺或測量帶進行測量。對于扇形試樣，以短軸作為等效直徑來確定試棒直徑和卷繞圈數(shù)。 
6、試驗結(jié)果的判定 
試驗結(jié)束后，檢查仍在試棒上的試樣，當用正常視力或用矯正過的視力而不用放大鏡進行檢查時，兩個絕緣試樣均應無裂痕。 

K-WLW電線電纜低溫卷繞驗機 
適用于電線電纜冷彎試驗。取試樣放入卷繞棒上，當溫度達到試驗箱的設(shè)定值并在規(guī)定的冷卻時間結(jié)束后，以均勻之速度旋轉(zhuǎn)試棒使試樣整齊地在規(guī)定直徑之圓棒上卷繞成緊密的螺旋，再將試樣保持在試棒上直至其恢復到接近環(huán)境溫度后取出試樣，檢視是否有龜裂、裂痕。符合GB2951.14-2008、GB/T2951.4-1997、GB2099-2008、VDE0472、GB10592-89、GB11158-89、GB10589-89、GB2423.1、GB2423.2和IEC884-1、UL、CSA等標準。 
1、溫度范圍：-70℃、-60℃、-40℃、-20℃～+150℃、180℃、200℃任選 
2、溫度波動度：±0.5℃ 
3、溫度均勻度：±2℃ 
4、溫度控制儀：具有高精度高穩(wěn)定性PID控制 
5、保護功能：具有超溫保護和定時功能  
6、工作室尺寸：100L、150L、225L、408L等 
7、低溫卷繞試樣直徑：Ф2.5～Ф12.5mm 
8、卷繞棒直徑：Ф4.0～Ф40.0mm共12支（可訂制） 
9、過線套：Ф3.5、Ф6、Ф10、Ф12、Ф16mm各二件 
10、試樣纏繞圈數(shù)：2～10圈 
11、材質(zhì)：工作室、試樣擱架、卷繞裝置均采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼， 
耐腐蝕。外箱體采用靜電噴塑 
12、中空導電玻璃視窗（帶照明），門窗*冷凝水（內(nèi)外兩層發(fā)熱體）； 
測試用電纜線引出口Φ50mm--1只；測試用手柄出口Φ16.5mm--1只